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涂层测厚/镀层测厚/漆膜测厚

更新时间:2020-11-18
产品型号:JC220
所属分类:数显测厚仪
描述:涂层测厚仪/镀层测厚仪/漆膜测厚仪 磁性法测厚法(主要用于检测钢铁上涂镀层及漆膜厚度)
是一种超小型测量仪,它能快速、无损伤、精颏地进行铁磁性金属基体上的覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小,测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。
详情介绍

涂层测厚仪/镀层测厚仪/漆膜测厚仪

主要功能
  可进行零点校准及二点校准。
  可对测头进行基本校准。
  设有五个统计量:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)。
  可存贮和统计计算15个测量值。
  具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)。
  具有自动关机功能。
  删除功能:对测量中出现的单次可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量。 
  操作过程有蜂鸣声提示。
  有欠压指示功能。
  有错误提示功能。

主要技术指标
  测量原理:磁性法
  测量范围:1~1250μm
  测量精度:±(3%H+1)μm(零点校准)
       ±[(1~3)%H+1] μm(二点校准)

(二)涡流法测厚仪(主要用于检测铜及铝材上涂镀层及漆膜厚度)

    本仪器是一种超小型的测量仪,它能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小,测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。

主要功能
  可进行零点校准及二点校准。
  可对测头进行基本校准。
  设有五个统计量:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)。可存贮和统计计算15个测量值。
  具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)。
  自动关机功能。
  删除功能:对测量中出现的单次可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量。
  操作过程有蜂鸣声提示。
  有欠压指示功能。
  有错误提示功能。

主要技术指标 
  测量原理:涡流法
  测量范围:1~1250μm
  测量精度:±(3%H+1.5)μm(零点校准)
       ±[(1~3)%H+1.5] μm(二点校准)

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